Probe Pin
探針
在晶圓測試中，探針是探針卡與晶圓之間直接接觸的介面，也是探針卡三大關鍵零組件之一（PCB、Substrate、Probe），在晶圓測試中扮演極為重要的角色。透過穩定且連續的接觸測試，將電性訊號自晶圓凸塊接點傳送至測試機台，藉此判定晶圓上每一個 DUT（待測元件）的生產良率，節省後段封裝成本。
產品說明
依產品外型不同，可分為水平式（懸臂式）探針與垂直式探針。
1. 懸臂式探針
探針針尖以水平方向對晶圓進行蝕刻或研磨，並在適當位置彎折至正確角度，使針尖能正確接觸晶圓上的 PAD，將各晶片 PAD 的訊號回傳至測試機台，以判定每顆晶片的生產品質。
2. 垂直式探針
依循摩爾定律，半導體設計技術快速發展，晶片複雜度大幅提升。邏輯領域所使用的晶片，其接腳排列通常並不規則。要完成這類非標準佈局的接腳測試，就必須使用垂直式探針卡。
COBRA PROBE 是垂直式探針卡中的核心零件。它可採用高密度垂直插置方式，克服複雜的設計與測試需求，並簡化後續探針卡的維護與更換作業。
