Probe Pin
探针
在晶圆测试中，探针是探针卡与晶圆之间直接接触的接口，也是探针卡三大关键零组件之一（PCB、Substrate、Probe），在晶圆测试中扮演极为重要的角色。通过稳定且连续的接触测试，将电性信号自晶圆凸块接点发送至测试机台，借此判定晶圆上每一个 DUT（待测组件）的生产良率，节省后段封装成本。
产品说明
依产品外型不同，可分为水平式（悬臂式）探针与垂直式探针。
1. 悬臂式探针
探针针尖以水平方向对晶圆进行蚀刻或研磨，并在适当位置弯折至正确角度，使针尖能正确接触晶圆上的 PAD，将各芯片 PAD 的信号回传至测试机台，以判定每颗芯片的生产品质。
2. 垂直式探针
依循摩尔定律，半导体设计技术快速发展，芯片复杂度大幅提升。逻辑领域所使用的芯片，其接脚排列通常并不规则。要完成这类非标准布局的接脚测试，就必须使用垂直式探针卡。
COBRA PROBE 是垂直式探针卡中的内核零件。它可采用高密度垂直插置方式，克服复杂的设计与测试需求，并简化后续探针卡的维护与更换作业。
